Emne - Halvleder komponent- og kretsteknologi - TFE4180
TFE4180 - Halvleder komponent- og kretsteknologi
Om emnet
Vurderingsordning
Vurderingsordning: Skriftlig eksamen
Karakter: Bokstavkarakterer
Vurdering | Vekting | Varighet | Delkarakter | Hjelpemidler |
---|---|---|---|---|
Skriftlig | 100/100 | 4 timer |
Faglig innhold
Hoveddelen av emnet er dedikert prosessering av halvlederkomponenter og CMOS integrerte kretser, som filmdeponering, ioneimplantasjon, fotolitografi, etsing, metallisering, trådbonding og pakking. I tillegg gjennomgås dampfase-, væskefase- og molekylstråle-epitaksi. Halvleder heterostruktur og supergitter. Karakterisering av halvledere med elektriske målinger (resistivitet, mobilitet, dopekonsentrasjoner), ionestråle-baserte teknikker (SIMS) og mikroskopi (optisk, SEM, TEM, STM, AFM).
Læringsutbytte
Emnet skal formidle innsikt i halvleder tynnfilmteknologi for fremstilling av elektroniske og fotoniske komponenter og CMOS integrerte kretser.
A. Kunnskap:
Emnet skal gi det teoretiske grunnlaget for å kunne gjøre fotolitografi og prosessering av halvlederkomponenter og CMOS integrerte kretser, samt det teoretiske grunnlaget for utvalgte karakteriseringsteknikker.
B. Ferdigheter:
Være i stand til å gjøre fotolitografi og enkel prosessering av halvledere i renrom, samt gjøre karakterisering med utvalgte teknikker. Være i stand til å presentere og diskutere det teoretiske grunnlaget for prosessering og karakterisering.
Læringsformer og aktiviteter
Forelesninger, regneøvinger, presentasjoner av studentene, laboratoriedemonstrasjoner og laboratorieøvinger i renrom. Ved utsatt eksamen (kontinuasjonseksamen) kan skriftlig eksamen bli endret til muntlig eksamen.
Obligatoriske aktiviteter
- Presentasjon
- Laboratorieøvinger
- Regneøvinger
Anbefalte forkunnskaper
Grunnleggende kunnskaper i fysikk og matematikk på universitetsnivå. Kjemi fra videregående skole.
Kursmateriell
Oppgis ved semesterstart.
Studiepoengreduksjon
Emnekode | Reduksjon | Fra | Til |
---|---|---|---|
SIE4080 | 7.5 | ||
TFE4167 | 3.7 | ||
TFE4177 | 3.7 |
Ingen
Versjon: 1
Studiepoeng:
7.5 SP
Studienivå: Videregående emner, nivå II
Termin nr.: 1
Undervises: VÅR 2015
Undervisningsspråk: Norsk
-
- Elektronikk
- Elektroteknikk
- Faste stoffers fysikk
- Fysikalsk elektronikk
- Materialteknologi og elektrokjemi
- Teknologiske fag
- Bjørn-Ove Fimland
- Bjørn-Ove Fimland
Ansvarlig enhet
Institutt for elektroniske systemer
Eksamensinfo
Vurderingsordning: Skriftlig eksamen
- Termin Statuskode Vurdering Vekting Hjelpemidler Dato Tid Eksamens- system Rom *
- Vår ORD Skriftlig 100/100 06.06.2015 09:00
-
Rom Bygning Antall kandidater
Vurderingsordning: Muntlig eksamen
- Termin Statuskode Vurdering Vekting Hjelpemidler Dato Tid Eksamens- system Rom *
- Sommer KONT Muntlig 100/100 12.08.2015
-
Rom Bygning Antall kandidater
- * Skriftlig eksamen plasseres på rom 3 dager før eksamensdato. Hvis mer enn ett rom er oppgitt, finner du ditt rom på Studentweb.
For mer info om oppmelding til og gjennomføring av eksamen, se "Innsida - Eksamen"