Emne - Anvendt elektronmikroskopi - MT8219
MT8219 - Anvendt elektronmikroskopi
Om emnet
Vurderingsordning
Vurderingsordning: Muntlig
Karakter: Bestått/ Ikke bestått
Vurdering | Vekting | Varighet | Delkarakter | Hjelpemidler |
---|---|---|---|---|
Muntlig | 100/100 | D |
Faglig innhold
Emnet undervises annet hvert år, neste gang høsten 2024. Emnet er tredelt og det undervises ca. 1/3 innen hvert emne: - Transmisjonselektronmikroskopi (TEM) - Scanning elektronmikroskopi (SEM) - Prøveprepareringsteknikker for TEM og SEM samt skadeanalyse
Læringsutbytte
Emnet tar sikte på å gi en teoretisk fordypning på en del områder innen anvendelse av SEM og TEM. Etter fullført kurs skal studenten kunne - Gjøre rede for teorien for røntgen mikroanalyse i SEM/TEM - Gjennomføre kvalitativ og kvantitativ røntgen mikroanalyse i TEM - Gjøre rede for grunnleggende teori for elektronspredning fra en krystall - Gjøre rede for de forskjellige kontrastmekanismer som finnes ved TEM avbildning- Gjøre rede for teori for avbilding av gitterdefekter i TEM- Gjøre rede for teorien for og foreta gitteravbildning i TEM - Gjøre rede for oppbygningen av spektrometer og elementær teori for elektron energitapsanalyse (EELS) - Utføre enkel avbildning og bestemme folietykkelser vha EELS - Gjennomføre kvalitativ og kvantitativ mikrostrukturkarakterisering vha EBSD i SEM - Gjøre rede for teorien for høgoppløsning (felt emisjon) SEM - Utføre høgoppløsningsavbildning i FESEM - Vurdere og utføre passende prøvepreparering for elektronmikroskopi- Gi en oversikt over de vanligste skademekanismene i metaller- Vurdere passende fremgangsmåte for å bestemme skademekanismer ved brudd
Læringsformer og aktiviteter
Forelesninger. Laboratorieøvinger med praktisk bruk av instrumentene. Forventet tidsbruk: forelesninger 40 timer, laboratoriearbeid 40 timer, selvstudie 120 timer.
Obligatoriske aktiviteter
- Laboratorieøvinger
Anbefalte forkunnskaper
Emnet er beregnet på studenter i materialteknologi som har mye selvstendig mikroskoparbeid i sitt PhD-studium. Emnet krever derfor eksamen i emne TMT4300 Lys- og elektronmikroskopi eller tilsvarende kunnskaper i scanning og transmisjon elektronmikroskopi
Kursmateriell
Pensumlitteratur: Goldstein, Newbury, Echlin, Joy, Fiori and Lishin: Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalyses. (Utvalgte deler.) Utvalgte papersBrooks & Choudhury: Metallurgical Failure Analysis Williams, David B., Carter, C. Barry: Transmission Electron Microscopy - A Textbook for Materials Science Springer 2. Ed 2009. (e-bok)
Versjon: 1
Studiepoeng:
7.5 SP
Studienivå: Doktorgrads nivå
Termin nr.: 1
Undervises: HØST 2024
Undervisningsspråk: Engelsk, Norsk
Sted: Trondheim
- Materialteknologi
- Materialfysikk
Eksamensinfo
Vurderingsordning: Muntlig
- Termin Statuskode Vurdering Vekting Hjelpemidler Dato Tid Eksamens- system Rom *
- Høst ORD Muntlig 100/100 D
-
Rom Bygning Antall kandidater - Vår ORD Muntlig 100/100 D
-
Rom Bygning Antall kandidater
- * Skriftlig eksamen plasseres på rom 3 dager før eksamensdato. Hvis mer enn ett rom er oppgitt, finner du ditt rom på Studentweb.
For mer info om oppmelding til og gjennomføring av eksamen, se "Innsida - Eksamen"