Nano@NTNU - NTNU NanoLab renrom - karakterisering
Område for karakterisering
Renromsarealet for karakterisering kan tilby avansert mikroskopi, to rom tilpasset mørkeromsarbeid, samt arbeidsplasser for generell prøvepreparering. Renheten i dette området varierer fra renhetsklasse ISO 7 (10 000) til ISO 5 (100) avhengig av behov. Hele området er bygget i henhold til GMO II, laboratorieklasse 2.
Renromsarealet er utrustet for følgende typer aktivitet:
- S(T)EM for avbildning og materialanalyse (EDS)
- Fokusert ionestråleetser (Dual beam FIB) for mikrostrukturering, TEM-prøvepreparering, og 3D-slice and view av materialer, inkl materialanalyse (EDAX)
- SEM (lavvakuum) for rask og enkel avbildning og materialanalyse (EDS)
- Overflatekarakterisering med AFM i luft, inert gass og væske
- Overflatekarakterisering med profilometer
- Prøvepreparering for elektronmikroskopi
Spesialisert utstyr:
- Sveipelektronmikroskop kombinert med fokusert ionestråle-etser (FIB).
- Sveipelektronmikroskop for høyoppløst avbildning, inklusive STEM-opsjon.
- Sveipelektronmikroskop for rask lavoppløst avbildning
- Forskning-AFM og enklere AFM
- Optiske mikroskop
- Profilometer
- Enkle STM
- Sputtercoatere, plasmarenser og UV/ozon-renser
Informasjon om renrommet
På engelsk
- Adgang til NTNU NanoLab
- Utstyr og prosesser
(NorFab nettside på engelsk) - Kurs
- Nye priser FRA 01.07.2015 (PDF)
- Støtteordninger (NorFab nettside på engelsk)